광학 부품 및 어셈블리 전 제품의 품질을 보장하기 위해 에드몬드 옵틱스에서 보유한 계측 기술에 관해 좀 더 자세히 알아보십시오. EO에서 보유한 광범위한 종류의 제조 계측 기술 및 장비에는 간섭계, Shack-Hartmann 웨이브프론트 센서, cavity ring-down loss meter 등이 있습니다. EO 계측 기술에 관한 보다 상세한 정보는 https://www.edmundoptics.co.kr/capabilities/metrology/에서 확인이 가능합니다.
계측이 불가능하면 제작 자체가 불가능합니다. 에드몬드 옵틱스는 글로벌 제조 시설에서 생산되는 광학 부품 및 어셈블리의 제조 사양을 일관성 있게 보장하 위해 매우 다양한 종류의 계측 장비를 갖추고 있습니다. 제조 과정에서의 계측은 EO의 엄격한 ISO 9001 글로벌 품질 프로그램에 있어 매우 중요한 부분을 차지합니다. 따라서 대량 부품 생산 시 정밀 프로세스 제어 및 반복 정확도를 보증하기 위해 에드몬드 옵틱스에서는 이와 같은 계측 과정을 필히 거칩니다. 간섭계는 투과 및 반사 웨이브프론트를 최소 λ/20의 높은 정밀도로 측정할 때 사용됩니다. 에드몬드 옵틱스는 스티칭, 대형 구경, 소형 구경, 컴퓨터 홀로그램 셋팅 등의 각종 구성을 위해 다양한 간섭계를 활용합니다. 백색광 간섭계를 이용하면 표면 거칠기 측정을 비롯해 고분산 미러와 같은 극초단 레이저 광학의 군지연분산(GDD)을 측량할 수 있습니다. 실제 상황에서는 GDD가 다른 사양에 비해 이론상의 설계와 다른 경향을 보임에 따라 GDD를 보다 정확하게 측정하는 것이 특히 중요합니다. 당사의 레이저 빔 익스팬더와 같은 일부 어셈블리의 경우 투과 및 반사 웨이브프론트 오류를 간섭계가 아닌 Shack-Hartmann 웨이브프론트 센서를 사용해 측정하기도 합니다. 프로필로미터, 좌표 계측기, CMM으로는 광학 부품의 표면을 검사해 표면 곡률, 평탄도, 불균일성을 알아낼 수 있습니다. 프로필로미터는 측정 가능한 형상에 제약이 없어 비구면 렌즈 계측에 이상적으로 사용할 수 있습니다. 광학 코팅의 반사 및 투과 스펙트럼 속성은 분광광도법을 통해 확인할 수 있습니다. 고반사 또는 고투과 광학 부품의 경우 cavity ringdown loss meter를 이용하면 특정 레이저 라인에서 백만분률(ppm) 수준의 민감도를 갖는 높은 정확도로 총 광손실을 구할 수 있습니다. 이미징 렌즈 어셈블리의 해상도 및 콘트라스트 테스트는 MTF(Modulation Transfer Function), 테스트 벤치, 역투사법, 맞춤형 시험 고정부(test fixture)를 이용해 진행됩니다. DIC(Differential Interference Contrast) 현미경은 레이저 손상과 같이 광학 코팅 및 기판 등의 투과형 소재에 존재하는 결함을 높은 민감도로 감지하는 데 사용됩니다. 환경 테스트 장비는 특수한 케이스에 사용되며 충격, 진동, 습도, 침습성에 대한 요건을 부품 및 어셈블리가 충족하는지 여부를 검증해줍니다. 에드몬드 옵틱스는 이외에도 표면 거칠기 측정용 원자간력현미경(AFM), 렌즈 정렬용 센트레이션 측정기, 각도 검증용 오토콜리메이터 등의 다양한 계측 기술을 활용합니다. 이처럼 높은 기술을 요구하는 계측 시스템과 숙련된 기술자를 통해 에드몬드 옵틱스는 대량 및 소량 생산 시 적용되는 공칭 사양을 일관되게 충족할 수 있습니다. 제품 관련 테스트 및 인증 보고서는 요청에 따라 제공이 가능합니다. 인증 보고서는 요청에 따라 제공이 가능합니다.
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