Laser Beam Analysis
Laser Beam Analysis 기술은 용도에 따른 레이저 빔의 유용성 또는 호환성을 검증하기 위해 레이저 빔의 속성을 측정하는 데 사용됩니다. Laser Beam Analysis에는 빔 이미지의 데이터를 측정해 빔 위치, 최대 출력 위치, 안정성 또는 빔 밀도와 같은 정보를 제공하는 profiler system과 같은 장치가 포함되어 있습니다. Laser Beam Analysis 시스템은 검증된 레이저에 관한 자세한 정보를 전달함으로써 다양한 레이저 용도에서 제어 능력을 높일 뿐 아니라 일련의 정보를 제공합니다.
Haas Laser Technologies BA-CAM Beam Analyzer Cameras
- 빔 프로파일, 중심, 타원도, 클립 레벨, 평탄도 계수, 플라토 균일도 분석
- CW 광원 / 펄스 레이저 광원 지원
- 레이저 시스템 진단 및 공정 최적화에 적합
- ISO 13694 공간 빔 계측 표준 준수
DataRay M² Measurement Systems
- ISO 11146 표준 준수
- 355 - 1150nm 혹은 2000 - 16000nm의 파장 옵션
- 이동 거리 옵션: 50mm, 200mm
DataRay CMOS Beam Profilers
- 355 - 16000nm 파장 대역에서 사용하도록 설계
- 호환 가능한 빔 직경: <52μm
- 강력하고 사용이 간편한 소프트웨어 무료 제공
- 빔 이탈, M2, 발산 등 측정
DataRay Scanning Slit Beam Profilers
- 190 - 1150nm 파장 대역에서 사용하도록 설계
- 측정 가능한 빔 직경: 2μm - 4mm
- 강력하고 사용이 간편한 소프트웨어 무료 제공
Edmund Optics® Beam Profiler
- 정확한 소형 빔 프로파일 측정을 위한 높은 해상도
- 대형 빔 프로파일 측정을 위해 영역이 넓은 센서 사용
- USB 3.0을 통한 초고속 전송
Coherent® Lasercam™ Beam Profiler
- 12 및 14-bit Digital USB 2.0 Interface 옵션
- 높은 민감도와 다양한 범위
- Intuitive BeamView™ 스프트웨어 포함
CamUV 200nm UV USB 3.1 Cameras
- Ideal for a Variety of Ultraviolet (UV) Imaging Applications
- 200nm Designed Wavelength
- Phosphor Coated Camera Sensor
- Includes Camera, Cable, and Easy-to-Use Software
- NIR Versions Available
본사 및 지사별 연락처 확인하기
견적 요청 도구
재고 번호 입력 필요
Copyright 2023, 에드몬드옵틱스코리아 사업자 등록번호: 110-81-74657 | 대표이사: 이준호 | 통신판매업 신고번호: 제 2022-서울마포-0965호, 서울특별시 마포구 월드컵북로 21, 7층 (서교동, 풍성빌딩)
The FUTURE Depends On Optics®