
- Designed for Use from 355 to 1150nm
- Compatible with Beam Diameters Down to 52µm
- Robust and Easy to Use Free Software Provided
- Measure Beam Wander, M², Divergence, and More

- Designed For Use From 190 to 1150nm
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- 정확한 소형 빔 프로파일 측정을 위한 높은 해상도
- 대형 빔 프로파일 측정을 위해 영역이 넓은 센서 사용
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- 12 및 14-bit Digital USB 2.0 Interface 옵션
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