Laser Beam Analysis

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DataRay CMOS Beam Profilers DataRay CMOS Beam Profilers 신제품
  • 355 - 1150nm 파장 대역에서 사용하도록 설계
  • 호환 가능한 빔 직경: <52μm
  • 강력하고 사용이 간편한 소프트웨어 무료 제공
  • 빔 이탈, M2, 발산 등 측정
DataRay Scanning Slit Beam Profilers DataRay Scanning Slit Beam Profilers 신제품
  • 190 - 1150nm 파장 대역에서 사용하도록 설계
  • 측정 가능한 빔 직경: 2μm - 4mm
  • 강력하고 사용이 간편한 소프트웨어 무료 제공
Edmund Optics&reg; Beam Profiler Edmund Optics® Beam Profiler
Top Seller
  • 정확한 소형 빔 프로파일 측정을 위한 높은 해상도
  • 대형 빔 프로파일 측정을 위해 영역이 넓은 센서 사용
  • USB 3.0을 통한 초고속 전송
Coherent&reg; Lasercam&trade; Beam Profiler Coherent® Lasercam™ Beam Profiler
  • 12 및 14-bit Digital USB 2.0 Interface 옵션
  • 높은 민감도와 다양한 범위
  • Intuitive BeamView™ 스프트웨어 포함

Laser Beam Analysis 기술은 용도에 따른 레이저 빔의 유용성 또는 호환성을 검증하기 위해 레이저 빔의 속성을 측정하는 데 사용됩니다. Laser Beam Analysis에는 빔 이미지의 데이터를 측정해 빔 위치, 최대 출력 위치, 안정성 또는 빔 밀도와 같은 정보를 제공하는 profiler system과 같은 장치가 포함되어 있습니다. Laser Beam Analysis 시스템은 검증된 레이저에 관한 자세한 정보를 전달함으로써 다양한 레이저 용도에서 제어 능력을 높일 뿐 아니라 일련의 정보를 제공합니다.

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