Laser Beam Analysis

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DataRay CMOS Beam Profilers DataRay CMOS Beam Profilers 신제품
  • Designed for Use from 355 to 1150nm
  • Compatible with Beam Diameters Down to 52µm
  • Robust and Easy to Use Free Software Provided
  • Measure Beam Wander, M², Divergence, and More
DataRay Scanning Slit Beam Profilers DataRay Scanning Slit Beam Profilers 신제품
  • Designed For Use From 190 to 1150nm
  • Measure Beam Diameters of 2µm to 4mm
  • Robust Easy to Use Software Provided
Edmund Optics® Beam Profiler Edmund Optics® Beam Profiler
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  • 정확한 소형 빔 프로파일 측정을 위한 높은 해상도
  • 대형 빔 프로파일 측정을 위해 영역이 넓은 센서 사용
  • USB 3.0을 통한 초고속 전송
Coherent® Lasercam™ Beam Profiler Coherent® Lasercam™ Beam Profiler
  • 12 및 14-bit Digital USB 2.0 Interface 옵션
  • 높은 민감도와 다양한 범위
  • Intuitive BeamView™ 스프트웨어 포함

Laser Beam Analysis 기술은 용도에 따른 레이저 빔의 유용성 또는 호환성을 검증하기 위해 레이저 빔의 속성을 측정하는 데 사용됩니다. Laser Beam Analysis에는 빔 이미지의 데이터를 측정해 빔 위치, 최대 출력 위치, 안정성 또는 빔 밀도와 같은 정보를 제공하는 profiler system과 같은 장치가 포함되어 있습니다. Laser Beam Analysis 시스템은 검증된 레이저에 관한 자세한 정보를 전달함으로써 다양한 레이저 용도에서 제어 능력을 높일 뿐 아니라 일련의 정보를 제공합니다.

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