해당 제품은 190 - 1150nm 파장 범위에 적합한 실리콘 디텍터가 특징입니다. 2.5µm의 슬릿과 더 큰 나이프 엣지 슬릿이 장착된 Beam'R2는 직경이 <2µm인 빔을 측정할 수 있습니다. 스캐닝 슬릿 장치는 카메라 기반 시스템보다 훨씬 높은 해상도를 제공하며 연속파 및 펄스 레이저 광원 모두와 호환됩니다. 해당 제품은 광학 어셈블리 및 장비 정렬, 포커싱/정렬 오류에 대한 실시간 진단, 여러 어셈블리를 동일한 초점 위치에서 실시간으로 설정하는 데 적합합니다. 또한, USB 2.0으로 전원을 공급하며 3m USB 2.0 케이블이 포함되어 있습니다.
혹은 지사별 연락처 확인
견적 도구
재고번호 입력 후 바로 시작
Copyright 2023, 에드몬드 옵틱스 코리아 사업자 등록번호: 110-81-74657 | 대표이사: 앙텍하우 | 통신판매업 신고번호: 제 2022-서울마포-0965호, 서울특별시 마포구 월드컵북로 21, 7층 (서교동 풍성빌딩)