머신 비전용 인라인 텔레센트릭 조명

저자: Thomas Stard & Rebecca Charboneau

인라인 텔레센트릭 조명에 관한 소개

텔레센트릭 이미징 렌즈와 결합된 인라인 조명은 콘트라스트가 낮은 표면 형상 감지 또는 스루홀 검사가 필요한 고정밀 머신 비전 어플리케이션을 위한 강력한 기술입니다. 이 동축 조명 방식은 빔스플리터를 사용하여 이미징 렌즈의 광축을 따라 빛을 유도함으로써 최소한의 정반사로 표면 결함, 식각된 자국 또는 투명한 형상을 강조하는 균일하고 그림자 없는 조명을 제공합니다(그림 1). 텔레센트릭 렌즈는 시야각 전체에 걸쳐 균일한 배율을 보장하고 원근법의 오류를 제거함으로써 이러한 셋업을 더욱 향상시키며, 이는 정확한 치수 측정에 매우 중요합니다. 이 어플리케이션 노트에서는 인라인 조명을 사용하여 다양한 표면을 가진 피사체의 예시 이미지를 관찰합니다. 아래 이미지는 0.69X CobaltTL Telecentric Lens로 촬영했으며, 핫스폿을 최소화하기 위해 확산 백색 스폿 라이트를 사용했습니다.

인라인 텔레센트릭 조명의 이미지 분석 및 평가

0.69X CobaltTL Telecentric Lens
A
B
C
D
E

정반사 표면을 가진 피사체가 배송 라벨(패널 C)이나 플라스틱 캡(패널 B) 같은 확산 피사체에 비해 인라인 조명의 이점을 가진다는 것을 관찰할 수 있습니다. 이러한 유형의 조명을 사용하면 금속 부품(패널 D)이나 전자 회로 기판(패널 E) 같은 반사 피사체에서 형상을 훨씬 더 쉽게 구분할 수 있습니다. 인라인 조명은 반도체 웨이퍼 검사, 광택 처리된 표면의 미세 흠집 또는 결함 감지, 금속 부품의 레이저 마킹 확인, PCB 또는 의료 기기의 드릴 구멍 검사 등 기존 조명 기술로는 충분한 콘트라스트나 기하학적 정확도를 얻을 수 없는 어플리케이션에 특히 적합합니다.

결론: 비전 시스템에 인라인 조명을 통합하기 위한 핵심 요점

인라인 텔레센트릭 조명은 반사 표면이나 복합 표면에 빛번짐 없는 균일한 조명이 요구되는 정밀 머신 비전 어플리케이션에서 매우 중요한 요소입니다. 카메라와 동일한 광축을 따라 시준된 빛을 유도함으로써 빛번짐을 제거하고 매우 일관된 조명을 보장하므로 투명, 정반사 또는 원통형 부품을 검사하는 데 적합합니다. 높은 정확도의 측정과 신뢰할 수 있는 결함 감지가 필요한 경우, 인라인 텔레센트릭 조명은 견고하고 반복 가능한 비전 시스템 성능에 필요한 균일성과 광학 제어 기능을 제공합니다.

기타 참고 문헌

사용 제품 목록

사용된 카메라: LUCID Vision Labs Triton2™ TRT245S-MC, Sony IMX540, 24.5MP, Monochrome Camera (TRT245S-MC) (#28-874)
사용된 렌즈: Edmund Optics 0.69X CobaltTL Telecentric Lens (#15-872)
사용된 조명: CCS 인라인 스폿 라이트: Diffused Light Compact Spot Light HLV3-14SW-HU (#21-853)

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