Structured Illumination 사용

조명은 모든 machine vision system의 핵심 부품이며 그저 괜찮은 이미징 시스템과 뛰어난 시스템 간의 차이점이 될 수 있습니다. 용도별로 조명 위치와 파장을 꼼꼼히 검토해야 할 뿐 아니라 일부 시스템의 경우에는 시스템 성능을 극대화하기 위한 structured illumination이 필요합니다.

Structured illumination은 특정 패턴의 빛을 이용해 물체의 기하학적 모양과 깊이를 파악합니다. 격자, 점, 선과 같은 다양한 패턴으로 물체를 비춤으로써 효과적인 3D 시스템을 구축함과 동시에 비용, 부품 수, 그리고 복잡성을 최소화할 수 있습니다.

보정이 잘 된 시스템은 계측 정확도를 높이기 때문에 structured illumination은 범용이 아니며 계측 용도별로 서로 다른 구조를 사용해야 한다는 점을 이해하는 것이 중요합니다. 예를 들어, 점 격자 패턴은 물체의 점 몇개를 검사하는 데는 충분할 수 있지만 물체의 3차원적 프로파일을 측정하려면 선 또는 여러 개의 선으로 이루어진 패턴이 필요합니다.

표 1은 일반적인 structured illumination 패턴과 이에 적합한 용도를 설명합니다.

많이 쓰이는 Structured Illumination 패턴
Structured Illumination	결정 방법	목적
	Triangulation 기반	물체를 스캔함과 동시에 대부분 물체의 치수를 파악함
	Shadow 및 Triangulation 기반	물체를 스캔함과 동시에 굴절 물체의 치수를 파악함
	Distortion 기반	한 번의 노출로 서로 다른 여러 지점에서의 깊이 정보 파악