13.5nm, 25.4mm Dia, 5° AOI, EUV Spherical Mirror

TECHSPEC® Extreme Ultraviolet (EUV) Spherical Mirrors

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Design Wavelength DWL (nm):
13.5
Substrate: Many glass manufacturers offer the same material characteristics under different trade names. Learn More
Fused Silica (Corning 7980)
Surface Roughness (Angstroms):
<3 RMS
Diameter (mm):
25.40 +0.00/-0.13
Effective Focal Length EFL (mm):
250.00
Radius of Curvature (mm):
500.00
Coating:
Mo/Si Multilayer
Top Layer: Silicon
Coating Specification:
Rabs >60% @ 13.5nm
Coating Type:
Metal/Semiconductor
Radius R1 (mm):
500.00
Thickness (mm):
6.35 ±0.25
Type:
Spherical Mirror
Full Width-Half Max FWHM (nm):
0.50

Regulatory Compliance

Certificate of Conformance:

제품군의 상세 설명

  • 초강력 연마된 기판에 Mo/Si 다층 코팅
  • 13.5nm에서 최대 반사율 제공
  • 극자외선(EUV) 포커싱 용도로 설계
  • 좁은 통과 대역으로 HHG 용도에 적합

Extreme Ultraviolet (EUV) Spherical Mirrors는 다층의 Mo/Si 코팅 처리가 되어 있어 13.5nm에서 60%가 넘는 반사율을 제공합니다. 이 제품은 5°의 입사각을 위해 설계되었으며 비편광 EUV 레이저 광원을 포커싱하는 데 사용됩니다. 표면 거칠기는 3Å RMS 미만으로서 산란을 최소화합니다. 이러한 미러는 파장이 길수록 더 많은 산란이 발생하는 EUV 파장에 반드시 필요한 광학 부품입니다. EUV Spherical Mirrors는 대략 0.5nm의 매우 좁은 통과 대역을 가지고 있어 고고조파 생성(HHG: high harmonic generation) 용도에서 13.5nm의 관심 고조파만 반사시킬 수 있습니다. EUV spherical mirrors의 주된 용도로는 CDI(Coherent Diffractive Imaging), EUV 이미징 및 EUV 나노머시닝이 있습니다.

참고: 각 미러의 생산 시행 견본에서 수집된 테스트 데이터 포함.

 
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