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4" Sphere, General Purpose Integrating Sphere System

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Coating:
Spectraflect®
Mounting Threads:
¼-20
Note:
Included Accessories:
SMA Adapters: #89-652 (x2)
Port Plugs: #89-651 (x1)
Port Frame Reducer: #89-650 (x1)
Port Reducer: #89-648 (x1)
Diameter (inches):
4
Diameter of 0° Port (inches):
1.50
Diameter of Port 2 (inches):
1.00
Diameter of Port 3 (inches):
1.00
Diameter of Port Frame Reducers (inches):
1.00 - 0.50
Diameter of Port Plugs (inches):
1.00
Diameter of Port Reducers (inches):
1.50 - 1.00
Diameter of SMA Adapter (inches):
1.00
Damage Threshold, By Design: Damage threshold for optical components varies by substrate material and coating. Click here to learn more about this specification.
1.7 J/cm2
Thermal Stability:
Up to 160°C

Regulatory Compliance

RoHS 2015:
Reach 209:
Certificate of Conformance:

제품군의 상세 설명

  • 광원 측정에 적합
  • Calibrate Sensor 및 Test Lens로 업그레이드 가능
  • 시스템을 간단히 결합할 수 있도록 설계

General Purpose Integrating Sphere Systems은 radiant flux를 공간적으로 결합해 optical radiation을 측정할 수 있도록 설계되어 있습니다. Sphere를 센서와 결합해 radiometer, photometer 또는 spectroradiometer를 만들어 광원에서 유출되는 전체 geometric flux 또는 조명 영역의 flux density를 측정할 수 있습니다. 아울러, 이 sphere system을 사용해 고출력 레이저 및 레이저 다이오드의 출력을 측정하거나 물질의 반사율 및 투과율을 계측할 수 있습니다.

Port plug, port reducer, 그리고 uniform source lamp를 포함해 시스템의 성능 수정 또는 업그레이드에 다양한 액세서리를 이용할 수 있습니다. Uniform source lamp는 focal-plan array의 responsivity, linearity, photo response non-uniformity, 그리고 dynamic range 분석과 같은 여러 irradiance 용도에 아주 적합합니다. 아울러, 이 소스는 광학 시스템 또는 이미징 렌즈의 CTF를 평가하기 위한 테스트 타겟을 고루 비추거나 cosine4 irradiance 감소 또는 optical aberration으로 인한 광학 시스템 내에서의 기타 irradiance 편차를 측정하는 데 사용할 수 있습니다.

 
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