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Family IDFamily ID는 제품군을 식별하는 데 사용되며, 검색창에서 제품 소개 페이지를 빠르게 찾을 수 있도록 해줍니다. #2779

NIST Traceable Scratch Dig Standards

NIST Traceable Scratch Dig Standards

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  • ISO 10110-7 & ISO 14997 규격 준수
  • 첫 번째 표면 패턴은 시스템 교정 또는 코팅 검수에 적합
  • 두 번째 표면 패턴은 표면 결함 측정에 적합

이 Surface Quality standard는 광학 부품에 존재하는 scratch와 dig 같은 표면 결함을 정량화하는 데 이상적으로 사용할 수 있습니다. Scratch Dig 표시 외에도 각 플레이트는 60mm 눈금, 크기가 서로 다른 6개의 격자, 다양한 주파수로 이루어진 6개의 라인 블록으로 구성됩니다. 격자는 불규칙적인 모양의 결함을 측정하는 데 사용됩니다. 한 부분에서 결함이 있는 총 영역의 제곱근이 바로 해당 부분의 등급 번호(grade number)가 됩니다. 표준 제품은 두 개의 플레이트로 이루어진 세트로 제공됩니다. 플레이트 1은 0.004에서 0.040까지의 등급 번호를 포함하고 플레이트 2는 0.040에서 0.400을 포함합니다. 첫 번째 표면 세트는 글래스 기판의 상단면에 번호가 표시되어 있으며, 두 번째 표면 세트는 글래스 기판의 하단면에 번호가 표시되어 있습니다. Positive set는 투명한 배경에 불투명 처리가 되어 있고 negative set는 불투명한 배경에 투명 처리가 되어 있습니다.

참고: 각각의 제품에는 적합인증서(CoC)가 포함됩니다.

기술 정보

Plate 1
Grade No. Circ. Diameter (μm) Dim. of Scratch (μm) Freq. Block (lp/mm) Grid Block Line W (μm) Grid Block Line Spacing (μm)
0.004 4.5 1 x 16 500 1 4.5
0.006 7 1.6 x 25 312.5 1.6 7
0.010 11 2.5 x 40 200 2.5 11
0.016 18 4 x 63 125 4 18
0.025 28 6.3 x 100 80 6.3 28
0.040 45 10 x 160 50 10 45
Plate 2
Grade No. Circ. Diameter (μm) Dim. of Scratch (μm) Freq. Block (lp/mm) Grid Block Line W (μm) Grid Block Line Spacing (μm)
0.040 45 10 x 160 50 10 45
0.060 70 16 x 225 31.25 10 70
0.100 110 25 x 400 20 10 110
0.160 180 40 x 630 12.5 10 180
0.250 280 63 x 1000 8 10 280
0.400 450 100 x 1600 5 10 450
 
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