Laser Optics Metrology Capabilities | 에드몬드 옵틱스

계측 기술

측정이 불가능하면, 제작도 불가능합니다

에드몬드옵틱스는 모든 사양을 지원하기 위해 최첨단 계측 기술을 다양하게 활용합니다. 제조공정 중 계측 기술에는 CRDS(Cavity Ring-Down Spectroscopy), 백색광 간섭측정, 비접촉 3D 프로파일 측정 등이 해당됩니다. 자체 레이저 테스트를 진행할 수 있는 실험실이 있어 내부 프로세스 개선과 레이저 손상 임계값(LDT) 검증이 가능합니다.

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보유 기술

핵심 기술

Short Coherence Length Interferometry

특수한 LED 광원을 사용하여 후면에서의 반사를 최소화하면서 평행하고 평평한 표면을 측정

후면을 특수 처리할 필요가 없어 측정 시간, 부품 손상 위험, 측정 오차 등을 최소화

후면에 응력 보정 코팅 처리를 한 IBS 코팅 미러와 같은 양면 코팅 광학 부품 측정에 적합

핵심 기술

광열 공통경로 간섭측정(Photothermal Common-Path Interferometry)

흡수율을 정확하게 측정하여 광학 코팅 및 기판의 파장 특성을 더 명확하게 분석

펌프-프로브(pump-probe) 방식이 흡수로 인한 열팽창 과정에서 발생하는 굴절률의 변화를 측정

투과율을 직접 측정하여 간접적으로 흡수율을 결정하는 분광광도계보다 정확하게 흡수율을 측정하며 감도가 높아 더 낮은 흡수율도 측정 가능

핵심 기술

레이저 옵틱 어셈블리 계측

자체 테스트로 어셈블리 성능 측정

투과 파면 오차 측정

레이저 빔 프로파일링

PIB(Power-in-Bucket) 및 대상 에너지 측정

각 어플리케이션에 적합한 테스트 개발

핵심 기술

UV 열화

자체 레이저 실험실에서 355nm 기준 10ns의 펄스 지속 시간으로 장시간 UV 레이저에 노출되는 경우에 대한 실험 수행

레이저로 인한 오염 가능성을 고려한 UV 레이저 시스템

환경이나 가스 배출로 인한 오염이 성능 저하나 시스템 고장으로 이어질 수 있는 가능성 존재

세척 및 조립 기술에 대한 전문성 축적으로 노출 및 오염으로 인한 영향을 완화

Laser Rod Testing

TRIOPTICS 레이저 로드 테스트 스테이션으로 평면/곡면 레이저 로드의 웨지, 표면 틸트, 투과 파면 오차 측정
1.3arcsec의 웨지 측정 정확도, 0.05arcsec의 분해능, 0.12arcsec의 반복도
405 - 1100nm 파장 대역 기준 1/20λ RMS보다 작은 파면 정확도, 2000λ보다 큰 동적 범위

Spectrophotometry

파장 대역별 반사율 및 투과율을 활용하는 분석 방법
측정 가능한 파장 범위: 120nm – 20μm
OD 7+ 차단율을 측정하여 투과 및 반사 파장 대역을 정확하게 제시

Interferometry

측정 가능한 투과 및 반사 파면: <λ/20
스티칭(stitching), 대구경/소구경, 컴퓨터 기반의 홀로그램 생성
플랫/구면/비구면 광학 부품 및 광학 어셈블리의 표면 불균일도를 정량화하는 데 사용

LDT(Laser Damage Threshold) Testing

레이저 손상 임계값(LDT)을 검증하기 위해 자체 및 외부 업체 테스트 진행
1064nm 및 고조파(532nm, 355nm)에 적합한 고출력 나노초 Nd:YAG 레이저 자체 생산
그 외 파장 대역 및 펄스 지속 시간 옵션 제공
요청 시 테스트 데이터 제공 가능

CRDS(Cavity Ring-Down Spectroscopy)

감도가 높아 백만분율(PPM) 단위로 손실을 정밀하게 측정
일반적인 Nd:YAG 고조파에 맞춰져 있으나 요청 시 다른 파장 대역으로 조정 가능
고반사/저반사 레이저 광학 부품을 정확하게 측정

AFM(Atomic Force Microscopy)

표면 거칠기, 피처 크기, 위치의 특성을 정확하게 분석
좌우 방향(Lateral) 분해능: <3nm
높이 방향(Vertical) 분해능: <0.1nm

DIC(Differential Interference Contrast) Microscopy

감도가 높아 투과성 소재의 결함을 감지
광학 코팅 및 기판에서 발생하는 레이저 손상 분석
표면 분석 배율: <100X

Ultrafast Dispersion Characterization

다층 극초단 광학의 GDD(Group Delay Dispersion, 군지연분산)를 정확하게 측정
측정 가능한 초광대역 파장 범위: 250 - 2100nm
GDD 정확도(0 - 70° 입사각 기준): ±5fs²

Non-Contact 3D Profilometry

정밀 비구면 렌즈의 표면 프로파일 검증
OptiPro UltraSurf 4X 100 Non-Contact
부품이 긁히거나 손상되지 않으면서 표면을 측정

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당사의 제조 역량에 대해 문의해 주셔서 감사합니다. 빠른 시일 내에 연락드리겠습니다.

* 이중용도라는 용어는 보통 수출관리규정(EAR, Export Administration Regulations)이 적용되는 품목 유형을 설명할 때 사용됩니다.
이중용도 품목이라 하면 민간 및 군사 용도로 모두 사용하는 품목 혹은 대량살상무기(WMD, Weapon of Mass Destruction)와 연관된 품목을 말합니다.

레이저 광학 제조: 계측 기술

측정이 불가능하면, 제작도 불가능합니다

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핵심 기술

Short Coherence Length Interferometry

핵심 기술

광열 공통경로 간섭측정(Photothermal Common-Path Interferometry)

핵심 기술

레이저 옵틱 어셈블리 계측

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UV 열화

Laser Rod Testing

Spectrophotometry

Interferometry

LDT(Laser Damage Threshold) Testing

CRDS(Cavity Ring-Down Spectroscopy)

AFM(Atomic Force Microscopy)

DIC(Differential Interference Contrast) Microscopy

Ultrafast Dispersion Characterization

Non-Contact 3D Profilometry

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고객에게 제공되는 전문 솔루션:

광학 및 포토닉스 업계의유명 브랜드와 제품을취급하는 원스톱 쇼핑몰

고품질의 광학 및 이미징부품은 물론 시스템에 대한맞춤 제작과 대량 생산 지원

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