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Olympus WLI Infinity Corrected Interferometry Objectives

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  • 높은 개구수(NA) 값과 넓은 시야 결합
  • 열 보정 기능 및 안정성
  • 3D 표면 계측 및 프로파일 측정에 적합

해당 제품은 첨단 광학 설계를 통해 높은 개구수(NA) 값과 넓은 시야를 결합하였으므로 넓은 영역에서도 미세한 표면 디테일을 포착하여 시각적으로 선명하게 구현합니다. 각 제품에는 온도에 따른 focal shift를 보정하는 조절 링이 내장되어 있어 불안정한 환경 조건에서도 안정적이고 일관된 측정 정확도를 유지할 수 있습니다. 해당 제품은 초점 거리가 180mm인 튜브 렌즈와 함께 사용하도록 설계되었으며 배율 옵션으로 10X - 50X가 제공됩니다. 반도체 검사, 정밀 가공, 광학 코팅 평가, 마이크로일렉트로닉 특성화(microelectronic characterization) 등의 3D 표면 계측 및 프로파일 측정 어플리케이션에 적합합니다.

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