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Deluxe Illuminated Direct Measuring Microscopes


  • 40X와 100X 모델
  • Metric/Inch Reticle

연구소, 현장, 어셈블리 라인에서 빠르고 정밀한 측정을 위해 디자인. 인치와 밀리미터 dual 눈금 reticle 보유. Eyepiece를 돌려서 reticle의 초점을 맞춤. Reticle은 여러 방향으로의 측정을 위해 회전 가능. 수직 조절로 물체 이미지를 날카롭게 하는 동안 베이스는 물체를 보호합니다. 수직으로 조절 가능하고 배터리로 작동하는 분리 가능한 penlight 조명을 포함합니다. Scope는 베이스에 잘려진 열린 부분으로 물체 조작이 가능합니다. 스테이지 분리 가능.

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