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Family IDFamily ID는 제품군을 식별하는 데 사용되며, 검색창에서 제품 소개 페이지를 빠르게 찾을 수 있도록 해줍니다. #2779

NIST Traceable Scratch Dig Standards

NIST Traceable Scratch Dig Standards

NIST Traceable Scratch Dig Standards


이 Surface Quality 표준은 광학 부품에 있는 scratch and dig 표면 결점을 측정하는데 적합합니다. Scratch Dig marking에 추가적으로 각 플레이트에는 60mm 눈금, 6 개의 다른 크기의 격자 (grid)와 다양한 frequency의 6 개의 라인이 있습니다. 격자는 불규칙적인 모양의 결함 부분을 측정하는데 사용 가능합니다. 범위의 전체 결함 부분의 제곱근 (루트)을 하면 그 범위의 등급 번호 (grade number)가 됩니다.

이 제품은 두 가지 플레이트 세트로 제공됩니다. 플레이트 1은 0.004에서 0.040까지의 등급 번호를 포함하고 플레이트 2는 0.040에서 0.400을 포함합니다. 첫번째 표면 세트는 유리 기반의 위에 마크가 있습니다. 두번째 표면 세트에는 유리 기반의 아래에 마크가 있습니다. Positive 세트에는 투명한 배경에 검정으로 되었고 Negative 세트는 검정 배경에 투명으로 되었습니다.

참조: 각각의 제품에는 Certificate of Compliance가 포함됩니다.

기술 정보

Plate 1
Grade No. Circ. Diameter (μm) Dim. of Scratch (μm) Freq. Block (lp/mm) Grid Block Line W (μm) Grid Block Line Spacing (μm)
0.004 4.5 1 x 16 500 1 4.5
0.006 7 1.6 x 25 312.5 1.6 7
0.010 11 2.5 x 40 200 2.5 11
0.016 18 4 x 63 125 4 18
0.025 28 6.3 x 100 80 6.3 28
0.040 45 10 x 160 50 10 45
Plate 2
Grade No. Circ. Diameter (μm) Dim. of Scratch (μm) Freq. Block (lp/mm) Grid Block Line W (μm) Grid Block Line Spacing (μm)
0.040 45 10 x 160 50 10 45
0.060 70 16 x 225 31.25 10 70
0.100 110 25 x 400 20 10 110
0.160 180 40 x 630 12.5 10 180
0.250 280 63 x 1000 8 10 280
0.400 450 100 x 1600 5 10 450

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