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TECHSPEC Laser Line Beam Samplers

Laser Line Beam Samplers

Laser Line Beam Samplers


  • 코팅되지 않은 첫 번째 표면은 프레넬 반사 제공
  • 한쪽 표면에 Laser Damage Threshold가 높은 코팅 처리
  • 10-5의 표면 품질도

Laser Line Beam Samplers는 빔 모니터링 용도에서 코팅되지 않은 면에 의해 발생하는 프레넬 반사(Fresnel reflection)를 이용해 입사하는 레이저 빔의 일부를 소량 분할하는 데 사용됩니다. 이 beam sampler는 10-5의 표면 품질도와 λ/10의 표면 평탄도를 포함한 고성능 물리적 속성을 특징으로 하며 빔의 투과 효과를 최소화합니다. 두 번째 표면은 고스트 반사를 막기 위해 damage threshold가 높은 AR 코팅 처리가 되어 있습니다. Laser Line Beam Samplers는 UV 용융 실리카로 제조되어 UV - IR 구간에서 뛰어난 투과율과 낮은 열팽창 계수를 제공합니다. 266nm, 355nm, 532nm, 1064nm 파장에서 anti-reflection laser line 코팅 처리된 beam sampler 또한 이용이 가능합니다.

참고:Laser Line Beam Samplers를 레이저 측정 제품과 함께 사용하면 실시간으로 빔 파워와 프로파일 등의 빔 속성을 모니터링할 수 있습니다.

Laser Line Beam Sampler
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