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Test Targets

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Resolution Test Targets | 전체 보기

High Resolution Microscopy Slide Targets 신제품
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High Resolution Microscopy Slide Targets
  • 소형 패턴 사이즈 - 100nm 및 3300 lp/mm
  • 고정밀 E-Beam Lithography를 이용해 제작됨
  • Negative Pattern 디자인
1951 USAF Contrast Resolution Target 1951 USAF Contrast Resolution Target
  • 15 개의 농도 변화하는 USAF 타깃
  • 다른 Contrast 레벨에서 해상도 측정 가능
1951 USAF Glass Slide Resolution Targets 1951 USAF Glass Slide Resolution Targets
  • 유리 위에 Positive와 Negative 패턴
  • 두 가지 사이즈 가능
  • 각각 박스로 구성, Resolution Value 차트 포함
  • 고해상도 타겟 가능 (645 lp/mm까지)
1951 USAF Photographic Paper Resolution Targets 1951 USAF Photographic Paper Resolution Targets
  • 4:3 Aspect Ratio로 정리되어 필드로 해상도를 측정
  • 각 부분마다 다른 농도 레벨의 4 개의 USAF 타깃
Clear Optical Path USAF Target Clear Optical Path USAF Target
  • X-Ray, UV, Thermal, Far-IR 이미지 시스템을 위한 해상도(Resolution) 측정
  • 쉬운 설치
  • 투과 용도에 적합
High Precision Ronchi Rulings High Precision Ronchi Rulings
  • 유리에 크롬 코팅
  • 높은 공차
  • 훌륭하게 etch되고 채워진 Rulings
  • Edge에 라인 평행
  • English와 Metric 버전
I3A/ISO 12233 Resolution Test Chart I3A/ISO 12233 Resolution Test Chart
  • ISO 12233 표준에 따름
  • 전체 필드 해상도 교정 제공
  • 디지털이나 아날로그 비디오 시그널을 전달하는 단색과 컬러 카메라에 사용 가능
  • 3가지 크기
IEEE Target IEEE Target
  • 전체 필드 해상도 교정
  • 아날로그 이미지 시스템의 테스트용으로 디자인
NBS 1963A Resolution Target NBS 1963A Resolution Target
  • Negative와 Positive 패턴
  • NBS 표준 1010A를 따름
  • 주파수 범위는 1-512 Cycle/mm
Opal Glass Ronchi Ruling Slides Opal Glass Ronchi Ruling Slides
  • 오팔 위에 크롬 코팅
  • 반사형 시스템의 해상도 테스트
  • 높은 허용오차
Pocket USAF Optical Test Pattern Pocket USAF Optical Test Pattern
  • Pocket Sized USAF Test Pattern
Precision Ronchi Ruling Glass Slides Precision Ronchi Ruling Glass Slides
  • Resolution, Field 왜곡과 Parfocal Stability 평가를 위해 사용
  • Reticle과 Field 교정 요구에 적합
  • Opal 기반 위 혹은 형광 막이 있는 Float Glass, Fused Silica, Fused Silica 기반 위에 이용 가능
Precision Ronchi Rulings on Opal Glass Precision Ronchi Rulings on Opal Glass
  • Opal 위에 Chrome 코팅
  • High Tolerance
  • 인치와 Metric 버전
Resolving Power Chart Resolving Power Chart
  • Test for Astigmatism
  • USAF Test Pattern in Black, Red, Yellow, and Blue
  • 6 Elements in 6 Groups
Sinusoidal Targets Sinusoidal Targets
  • MTF 테스트를 위해 디자인
  • 이미지 부품의 이미지 품질을 결정
Star Target Star Target
  • 초점 에러와 Astigmatism 검사로 적합
  • 0.6-14 lp/mm Wedge Spacing
  • 화이트 포토 종이로 가능 또는 유리에 크롬 코팅
Star Target Arrays Star Target Arrays
  • 다양한 Field Point에서 수차를 감지
USAF 1951 and Dot Grid Target USAF 1951 and Dot Grid Target
  • USAF 1951 Elements 0 to 3 (14 lp/mm)
  • Fixed Frequency Grid on 2mm Centers
  • 2” x 2.75”
USAF Pattern Wheel Target USAF Pattern Wheel Target
  • 4-228 lp/mm resolution 테스트
  • 테스트 시간을 줄일 수 있음
  • Multiple Field Points 테스트
UV Fused Silica and Fluorescent USAF 1951 Resolution Targets UV Fused Silica and Fluorescent USAF 1951 Resolution Targets
  • UV나 fluorescent 현미경 교정을 위해 디자인
  • Fluorescent 타깃은 365nm Excitation 파장과 550nm Emission 파장을 보유
  • Negative와 Positive 타깃 가능
Variable Frequency Targets Variable Frequency Targets
  • 5 lp/mm에서 120 lp/mm나 5 lp/mm에서 200 lp/mm
  • 1mm 넓이의 Step 크기
  • 5 lp/mm Step 증가
  • 비디오 시스템 교정 용도로 사용
  • 모르는 해상도 측정

Distortion Test Targets | 전체 보기

Checkerboard Calibration Targets 신제품
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Checkerboard Calibration Targets
  • 치수상으로 안정된 글래스 기판 위에 크롬 패턴 보유
  • 이미징 시스템의 반사 조명 교정에 최적화
  • 20mm부터 제공되는 다양한 크기로 대소형 시야에 적합
Concentric Square Target Concentric Square Target
  • 측정 소프트웨어의 교정을 위함
  • NIST Traceable Certificate of Accuracy 포함
  • 1mm-50mm 정사각형
Diffuse Reflectance Grid Distortion Targets Diffuse Reflectance Grid Distortion Targets
  • Diffuse Reflection으로 세라믹 타깃과 같은 효과
  • 패턴 크롬 코팅
  • On-Axis나 Off-Axis Glare 없음
  • Front Illumination 측정에 완벽
Fixed Frequency Grid Distortion Targets Fixed Frequency Grid Distortion Targets
  • 이미지 시스템의 교정용
  • Fixed와 Multi Frequency 타깃 가능
  • NIST Certificate of Accuracy 포함
Line Grid Target Line Grid Target
  • 비전 시스템에서 왜곡 실험과 수정
  • 현미경 스테이지에서 시각 오류 측정
  • 물리적인 시야 측정
Multi-Frequency Grid Distortion Targets Multi-Frequency Grid Distortion Targets
  • 이미징 시스템의 교정(Calibration) 용도로 사용
  • 가변형 Spatial Frequency를 이용해 FOV에 변화를 줌
  • NIST Certificate of Accuracy 포함

Image Analysis Test Targets | 전체 보기

DOF 5-15 Depth of Field Target DOF 5-15 Depth of Field Target
  • 이미지 시스템의 심도 테스트
  • 계산의 필요 제거
Dot and Square Calibration Target Dot and Square Calibration Target
  • 측정 calibration을 위한 디자인
  • 유리에 Positive와 Negative 크롬 패턴
  • 0.5 - 10mm Element의 이미징을 위해 콘트라스트가 높은 타깃
  • NIST Traceability Certificate 포함
Dual Axis Linear Scale Stage Micrometer Dual Axis Linear Scale Stage Micrometer
  • New Opal 버전 가능
  • Dual Axis 디자인
  • English와 Metric Sacle
  • NIST 인증 버전 가능
EO Machine Vision Stage Micrometers EO Machine Vision Stage Micrometers
  • NIST Traceable Certificate of Accuracy 포함
  • 비전 시스템의 빠른 교정에 적합
  • 튼튼한 저장 케이스 포함
EO Telecentricity Target EO Telecentricity Target
  • 크기와 길이 측정을 만드는 비전 시스템에 꼭 필요한 도구
  • 어떤 타입의 렌즈도 교정
  • 많은 배율 범위 커버
Image Analysis Micrometer Image Analysis Micrometer
  • 측정 교정을 위해 디자인
Kodak Imaging Chart Kodak Imaging Chart
  • 18 개가 넘는 테스트 패턴
  • 8 ½" x 11" 필름
Micro Line and Dot Standard Stage Micrometer Micro Line and Dot Standard Stage Micrometer
  • Pixel Dithering 교정
  • 2μm에서 100μm 범위의 Line과 Dot Range
Multi-Function Calibration Target for Low Magnification Systems Multi-Function Calibration Target for Low Magnification Systems
  • 0.08X에서 4X 시스템 교정
  • MTF, DOF, 해상도, FOV와 왜곡 측정
  • 투과나 반사 시스템 교정 가능
  • NIST Certificate of Accuracy 포함
Multi-Function High Magnification Calibration Targets Multi-Function High Magnification Calibration Targets
  • 측정 교정을 위해 디자인-현미경과 머신 비전 시스템으로 적합
  • Ronchi Rulings, Concentric Circles, Square Grids, Linear Microscale을 포함
  • 다른 배율의 두 가지 타깃 가능
  • NIST Certificate of Accuracy가 포함됨
Multi-Grid Standard Stage Micrometer Multi-Grid Standard Stage Micrometer
  • 고 배율 시스템의 왜곡 교정
White Ivory Glass Reticle Targets White Ivory Glass Reticle Targets
  • Crossline, Index Grid, or Concenctric Circle Reticles
  • White Ivory Soda Lime Glass Substrates
  • 27mm Diameter Reticles

Color and Gray Level Test Targets | 전체 보기

Color Checkers Color Checkers
  • True Color balance 테스트
  • 과학적으로 설계된 24, 30 또는 140 컬러 패치
Color Scanner Test Target Color Scanner Test Target
  • Color Flatbed Scanner 분석에 적합
NIST Traceable Color Transmission Calibration Slides 신제품
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NIST Traceable Color Transmission Calibration Slides
  • 24개의 교정 컬러 패치
  • 150 - 4150µm의 패치 직경
  • Oil Immersion Objective와 호환
EIA GrayScale Pattern Slide EIA GrayScale Pattern Slide
  • 비디오 교정
  • 영구적인 농도 표준
  • 다양한 범위의 카메라 평가와 비교
ISO-14524 Reflective Camera Contrast Chart ISO-14524 Reflective Camera Contrast Chart
  • 카메라의 다이나믹 범위 결정
  • 12개의 회색 레벨 patch
ISO-21550 Dynamic Range Film ISO-21550 Dynamic Range Film
  • Transmission Scanner와 Imaging System의 OD 범위를 결정하는데 사용됨
Large Grayscale Target Large Grayscale Target
  • 15가지의 농도 스텝
  • Logarithmic Grayscale
Reflective Scanner Test Target Reflective Scanner Test Target
  • Complies with the ISO 16067-1 Standard
  • Designed to Test Digital Scanning Systems
Spectralon® White Balance and Diffuse Reflectance Targets Spectralon® White Balance and Diffuse Reflectance Targets
  • UV-VIS-NIR 파장 범위(350 – 1600nm)에서 공칭 반사율이 99%에 이르는 확산 반사
  • 견고하고 안정적이며 세척 가능
  • NIST Traceable Calibration Certificate 및 250 – 2500nm에 대한 데이터 포함

View all Resources Related to Test Targets  

Test Target은 효과적인 작동을 보장하기 위한 이미징 시스템의 정확도 또는 성능 측정에 사용됩니다. Test Target은 이미징 시스템에 결합되는 슬라이드나 윈도우로서 resolution, distortion 또는 컬러/그레이스케일을 포함한 다양한 이미징 특성을 측정하는 데 사용됩니다. Test Target은 이미징 시스템의 정밀도를 파악하기 위해 시스템이 초점을 맞추는 선, 점 또는 기타 패턴 배열을 특징으로 합니다. Test Target을 사용하면 오랜 시간이 경과하거나 여러 가지 용도에 사용하더라도 높은 수준의 이미징 시스템 정밀도를 유지할 수 있습니다.

Edmund Optics는 많은 이미징 시스템에 맞는 다양한 유형의 Test Target을 공급합니다. Test Target은 이미징 시스템에 쉽고 빠르게 설치할 수 있도록 디자인됩니다. Test Target은 몇 개의 시스템에든 반복하여 사용할 수 있어 소수의 타겟을 수많은 이미징 시스템에 사용할 수 있습니다. Test Target은 유리, 크롬 또는 사진 용지에 만들 수 있고 사용하기 쉽게 여러 가지 호환성 옵션을 제공합니다.


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