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Test Targets

Test Target은 효과적인 작동을 보장하기 위한 이미징 시스템의 정확도 또는 성능 측정에 사용됩니다. Test Target은 이미징 시스템에 결합되는 슬라이드나 윈도우로서 resolution, distortion 또는 컬러/그레이스케일을 포함한 다양한 이미징 특성을 측정하는 데 사용됩니다. Test Target은 이미징 시스템의 정밀도를 파악하기 위해 시스템이 초점을 맞추는 선, 점 또는 기타 패턴 배열을 특징으로 합니다. Test Target을 사용하면 오랜 시간이 경과하거나 여러 가지 용도에 사용하더라도 높은 수준의 이미징 시스템 정밀도를 유지할 수 있습니다.

Edmund Optics는 많은 이미징 시스템에 맞는 다양한 유형의 Test Target을 공급합니다. Test Target은 이미징 시스템에 쉽고 빠르게 설치할 수 있도록 디자인됩니다. Test Target은 몇 개의 시스템에든 반복하여 사용할 수 있어 소수의 타겟을 수많은 이미징 시스템에 사용할 수 있습니다. Test Target은 유리, 크롬 또는 사진 용지에 만들 수 있고 사용하기 쉽게 여러 가지 호환성 옵션을 제공합니다.

Resolution Test Targets | 전체 보기

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High Resolution Microscopy Slide Targets
  • 소형 패턴 사이즈 - 100nm 및 3300 lp/mm
  • 고정밀 E-Beam Lithography를 이용해 제작됨
  • Negative Pattern 디자인

1951 USAF Contrast Resolution Target
  • 15 개의 농도 변화하는 USAF 타깃
  • 다른 Contrast 레벨에서 해상도 측정 가능

1951 USAF Glass Slide Resolution Targets
  • 유리 위에 Positive와 Negative 패턴
  • 두 가지 사이즈 가능
  • 각각 박스로 구성, Resolution Value 차트 포함
  • 고해상도 타겟 가능 (645 lp/mm까지)

1951 USAF Photographic Paper Resolution Targets
  • 4:3 Aspect Ratio로 정리되어 필드로 해상도를 측정
  • 각 부분마다 다른 농도 레벨의 4 개의 USAF 타깃

Clear Optical Path USAF Target
  • X-Ray, UV, Thermal, Far-IR 이미지 시스템을 위한 해상도(Resolution) 측정
  • 쉬운 설치
  • 투과 용도에 적합

High Precision Ronchi Rulings
  • 유리에 크롬 코팅
  • 높은 공차
  • 훌륭하게 etch되고 채워진 Rulings
  • Edge에 라인 평행
  • English와 Metric 버전

I3A/ISO Resolution Test Chart
  • ISO 12233 표준에 따름
  • 전체 필드 해상도 교정 제공
  • 디지털이나 아날로그 비디오 시그널을 전달하는 단색과 컬러 카메라에 사용 가능
  • 3가지 크기

IEEE Target
  • 전체 필드 해상도 교정
  • 아날로그 이미지 시스템의 테스트용으로 디자인

NBS 1963A Resolution Target
  • Negative와 Positive 패턴
  • NBS 표준 1010A를 따름
  • 주파수 범위는 1-512 Cycle/mm

Opal Glass Ronchi Ruling Slides
  • 오팔 위에 크롬 코팅
  • 반사형 시스템의 해상도 테스트
  • 높은 허용오차

Precision Ronchi Ruling Glass Slides
  • Resolution, Field 왜곡과 Parfocal Stability 평가를 위해 사용
  • Reticle과 Field 교정 요구에 적합
  • Opal 기반 위 혹은 형광 막이 있는 Float Glass, Fused Silica, Fused Silica 기반 위에 이용 가능

Precision Ronchi Rulings on Opal Glass
  • Opal 위에 Chrome 코팅
  • High Tolerance
  • 인치와 Metric 버전

Sinusoidal Targets
  • MTF 테스트를 위해 디자인
  • 이미지 부품의 이미지 품질을 결정

Star Target
  • 초점 에러와 Astigmatism 검사로 적합
  • 0.6-14 lp/mm Wedge Spacing
  • 화이트 포토 종이로 가능 또는 유리에 크롬 코팅

Star Target Arrays
  • 다양한 Field Point에서 수차를 감지

USAF 1951 and Dot Grid Target
  • USAF 1951 Elements 0 to 3 (14 lp/mm)
  • Fixed Frequency Grid on 2mm Centers
  • 2” x 2.75”

USAF Pattern Wheel Target
  • 4-228 lp/mm resolution 테스트
  • 테스트 시간을 줄일 수 있음
  • Multiple Field Points 테스트

UV Fused Silica and Fluorescent USAF 1951 Resolution Targets
  • UV나 fluorescent 현미경 교정을 위해 디자인
  • Fluorescent 타깃은 365nm Excitation 파장과 550nm Emission 파장을 보유
  • Negative와 Positive 타깃 가능

Variable Frequency Targets
  • 5 lp/mm에서 120 lp/mm나 5 lp/mm에서 200 lp/mm
  • 1mm 넓이의 Step 크기
  • 5 lp/mm Step 증가
  • 비디오 시스템 교정 용도로 사용
  • 모르는 해상도 측정

Distortion Test Targets | 전체 보기


Concentric Square Target
  • 측정 소프트웨어의 교정을 위함
  • NIST Traceable Certificate of Accuracy 포함
  • 1mm-50mm 정사각형
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Checkerboard Calibration Targets
  • 치수상으로 안정된 글래스 기판 위에 크롬 패턴 보유
  • 이미징 시스템의 반사 조명 교정에 최적화
  • 20mm부터 제공되는 다양한 크기로 대소형 시야에 적합

Diffuse Reflectance Grid Distortion Targets
  • Diffuse Reflection으로 세라믹 타깃과 같은 효과
  • 패턴 크롬 코팅
  • On-Axis나 Off-Axis Glare 없음
  • Front Illumination 측정에 완벽

Fixed Frequency Grid Distortion Targets
  • 이미지 시스템의 교정용
  • Fixed와 Multi Frequency 타깃 가능
  • NIST Certificate of Accuracy 포함

Line Grid Target
  • 비전 시스템에서 왜곡 실험과 수정
  • 현미경 스테이지에서 시각 오류 측정
  • 물리적인 시야 측정

Multi-Frequency Grid Distortion Targets
  • 이미징 시스템의 교정(Calibration) 용도로 사용
  • 가변형 Spatial Frequency를 이용해 FOV에 변화를 줌
  • NIST Certificate of Accuracy 포함

Image Analysis Test Targets | 전체 보기


DOF 5-15 Depth of Field Target
  • 이미지 시스템의 심도 테스트
  • 계산의 필요 제거

Dot and Square Calibration Target
  • 측정 calibration을 위한 디자인
  • 유리에 Positive와 Negative 크롬 패턴
  • 0.5 - 10mm Element의 이미징을 위해 콘트라스트가 높은 타깃
  • NIST Traceability Certificate 포함

Dual Axis Linear Scale Stage Micrometer
  • New Opal 버전 가능
  • Dual Axis 디자인
  • English와 Metric Sacle
  • NIST 인증 버전 가능

EO Machine Vision Stage Micrometers
  • NIST Traceable Certificate of Accuracy 포함
  • 비전 시스템의 빠른 교정에 적합
  • 튼튼한 저장 케이스 포함

EO Telecentricity Target
  • 크기와 길이 측정을 만드는 비전 시스템에 꼭 필요한 도구
  • 어떤 타입의 렌즈도 교정
  • 많은 배율 범위 커버

Image Analysis Micrometer
  • 측정 교정을 위해 디자인

Kodak Imaging Chart
  • 18 개가 넘는 테스트 패턴
  • 8 ½" x 11" 필름

Micro Line and Dot Standard Stage Micrometer
  • Pixel Dithering 교정
  • 2μm에서 100μm 범위의 Line과 Dot Range

Multi-Function Calibration Target for Low Magnification Systems
  • 0.08X에서 4X 시스템 교정
  • MTF, DOF, 해상도, FOV와 왜곡 측정
  • 투과나 반사 시스템 교정 가능
  • NIST Certificate of Accuracy 포함

Multi-Function High Magnification Calibration Targets
  • 측정 교정을 위해 디자인-현미경과 머신 비전 시스템으로 적합
  • Ronchi Rulings, Concentric Circles, Square Grids, Linear Microscale을 포함
  • 다른 배율의 두 가지 타깃 가능
  • NIST Certificate of Accuracy가 포함됨

Multi-Grid Standard Stage Micrometer
  • 고 배율 시스템의 왜곡 교정

Color and Gray Level Test Targets | 전체 보기


Color Checkers
  • True Color balance 테스트
  • 과학적으로 설계된 24, 30 또는 140 컬러 패치

Color Scanner Test Target
  • Color Flatbed Scanner 분석에 적합
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NIST Traceable Color Transmission Calibration Slides
  • 24개의 교정 컬러 패치
  • 150 - 4150µm의 패치 직경
  • Oil Immersion Objective와 호환

EIA GrayScale Pattern Slide
  • 비디오 교정
  • 영구적인 농도 표준
  • 다양한 범위의 카메라 평가와 비교

ISO-14524 Reflective Camera Contrast Chart
  • 카메라의 다이나믹 범위 결정
  • 12개의 회색 레벨 patch

ISO-21550 Dynamic Range Film
  • Transmission Scanner와 Imaging System의 OD 범위를 결정하는데 사용됨

Large Grayscale Target
  • 15가지의 농도 스텝
  • Logarithmic Grayscale

Reflective Scanner Test Target
  • Complies with the ISO 16067-1 Standard
  • Designed to Test Digital Scanning Systems

Spectralon® White Balance and Diffuse Reflectance Targets
  • UV-VIS-NIR 파장 범위(350 – 1600nm)에서 공칭 반사율이 99%에 이르는 확산 반사
  • 견고하고 안정적이며 세척 가능
  • NIST Traceable Calibration Certificate 및 250 – 2500nm에 대한 데이터 포함

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